FIB 培训

发布日期 : 2016-12-28 10:21:19

分析测试中心成像平台本期技术讲座--双束系统(FIB/SEM)功能介绍,诚挚邀请大家参加、学习和交流!

      

               间:1227日(星期二)下午14:00-1530
       
        点:检测中心M101会议室
       人:邱杨
       
主要内容:双束系统是通过结合聚焦离子束,电子束,气体沉积装置,纳米操纵仪,各种探测器及可控制样品台等附件成为一个微纳区成像,加工,分析,操纵为一体的分析仪器。其应用范围也已经从半导体电子行业拓展至材料,生物,地质等众多领域。本报告将介绍一些关键概念,基本原理及一些典型应用,包括透射(TEM)样品制备,微纳加工,三维成像分析,微纳尺度力学测试样品,ATP样品制备,探针改造等。


培训文件:FIB basic_sustc-upload