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双球差校正透射电子显微镜

设备描述 : 双球差校正透射电子显微镜配有两个球差校正器,能够在透射模式和扫描透射模式下提高电磁透镜的分辨率,分辨率小于60 皮米。该透射电镜配有四个高效能谱探头,能够实现 ...

环境球差校正透射电镜

设备描述 : 环境球差校正透射电镜典型应用是样品在一定气氛环境下,通过电子显微术表征其微观结构的动态行为。另外,通过特殊设计的样品杆,能够实时观察材料样品在一些刺激下的响 ...

四探针

设备描述 : RTS-9型双电测四探针测试仪测量原理通过采用四探针双位组合测量技术,将范德堡测量方法推广应用到直线四探针上。利用电流探针和电压探针的组合变换,进行两次电测量, ...

纳米减薄

设备描述 : 型号 1040 纳米减薄 透射样品制备 •超低能量离子源 •聚焦离子束 •移除Ga离子产生的非晶层和注入层​ •可进一步减薄传统样品和FIB制备的透射样品 •配有液氮 ...

聚焦离子/电子双束系统

品牌型号 : FEI Helios Nanolab 600i

设备描述 : 聚焦离子/电子双束系统可用于纳米尺度超高分辨率成像、分析和制造。可以进行二次电子形貌分析且图像分辨率极高和背散射电子衬度分析。在微纳结构操作机械手,离子 ...