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四探针

设备描述 : RTS-9型双电测四探针测试仪测量原理通过采用四探针双位组合测量技术,将范德堡测量方法推广应用到直线四探针上。利用电流探针和电压探针的组合变换,进行两次电测量, ...

纳米减薄

设备描述 : 型号 1040 纳米减薄 透射样品制备 •超低能量离子源 •聚焦离子束 •移除Ga离子产生的非晶层和注入层​ •可进一步减薄传统样品和FIB制备的透射样品 •配有液氮 ...

聚焦离子/电子双束系统

品牌型号 : FEI Helios Nanolab 600i

设备描述 : 聚焦离子/电子双束系统可用于纳米尺度超高分辨率成像、分析和制造。可以进行二次电子形貌分析且图像分辨率极高和背散射电子衬度分析。在微纳结构操作机械手,离子 ...

高分辨透射电子显微镜

品牌型号 : Tecnai F30

设备描述 : Tecnai F30 能够快速有效地对样品形貌,结构和元素分布等性质进行表征和分析。该仪器集成了多种探测器,能够出色地完成 (HR)TEM、(HR)STEM、electron diffraction、E ...

原子力显微镜

品牌型号 : Asylum Research,MFP-3D-Stand Alone

设备描述 : 工作模式包括:接触模式 (Contact Mode AFM), 轻敲模式 (AC Mode AFM)- 拥有Q-control控制技术, 力学测量(Force Mode), 导电模式(conducting AFM), 横向力显微镜 ( ...