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Talos透射电镜

设备描述 : FEI Talos F200X 扫描/透射电子显微镜融合了出色的高分辨率 STEM 和 TEM 成像功能与行业领先的能量色散 X 射线光谱仪 (EDS) 信号检测功能及基于成分测绘的三维化 ...

双球差校正透射电子显微镜

设备描述 : 双球差校正透射电子显微镜配有两个球差校正器,能够在透射模式和扫描透射模式下提高电磁透镜的分辨率,分辨率小于60 皮米。该透射电镜配有四个高效能谱探头,能够实现 ...

环境球差校正透射电镜

设备描述 : 环境球差校正透射电镜典型应用是样品在一定气氛环境下,通过电子显微术表征其微观结构的动态行为。另外,通过特殊设计的样品杆,能够实时观察材料样品在一些刺激下的响 ...

四探针

设备描述 : RTS-9型双电测四探针测试仪测量原理通过采用四探针双位组合测量技术,将范德堡测量方法推广应用到直线四探针上。利用电流探针和电压探针的组合变换,进行两次电测量, ...

纳米减薄

设备描述 : 型号 1040 纳米减薄 透射样品制备 •超低能量离子源 •聚焦离子束 •移除Ga离子产生的非晶层和注入层​ •可进一步减薄传统样品和FIB制备的透射样品 •配有液氮 ...